发明名称 离子阱分析器以及离子阱质谱分析方法
摘要 本发明涉及一种离子阱分析器以及离子阱质谱分析方法,包括由多个电极围成的离子囚禁空间,至少一部分电极上施加有高频电压,用以在该囚禁空间中产生以二次场为主的囚禁电场。该装置在至少一个远离阱的方向上设有离子引出口,并在离子引出口一侧最靠近引出口的电极部分上叠加用于共振激发离子运动幅度的交变电压信号,而在其余至少一部分位于此方向的电极部分上并不附加与此交变电压幅度与相位相同的电压信号。通过该方法,或进一步在所述该方向其余电极部分附加与此交变电压反相的电压信号,可限制该激发交变电压信号引发的交变电场的取向性,从而提升离子阱的共振逐出效率,并减少离子运动中在逐出方向与非逐出方向上的运动耦合性,提高离子阱作为质量分析器的选择性。
申请公布号 CN103367094A 申请公布日期 2013.10.23
申请号 CN201210093413.X 申请日期 2012.03.31
申请人 株式会社岛津制作所 发明人 蒋公羽;孙文剑
分类号 H01J49/42(2006.01)I;H01J49/06(2006.01)I 主分类号 H01J49/42(2006.01)I
代理机构 上海市华诚律师事务所 31210 代理人 肖华
主权项 一种离子阱分析器,其特征在于,包括多个约束电极,所述多个约束电极围成作为离子阱的离子囚禁空间,其中,对所述多个约束电极中的至少一个约束电极施加束缚电压,以在所述离子阱中产生囚禁电场,在所述离子囚禁空间的边界上设置有至少一个离子引出口,所述离子引出口决定离子引出方向,与所述离子引出口同侧的约束电极在与所述离子引出方向垂直的方向上被分为多个电极部分,在产生所述囚禁电场期间的至少一部分时间段内,对所述多个电极部分叠加相位相同的交变束缚电压,或者对所述多个电极部分叠加直流束缚电压,用以在所述离子引出方向上形成呈基本二次性的束缚电场;其中,对所述多个电极部分中的最靠近所述离子引出口的第一电极部分叠加其幅度小于等于所述束缚电压的绝对值的最大值的交变电压信号,以共振激发选择离子的运动幅度;对所述多个电极部分中的所述第一电极部分以外的第二电极部分不施加与所述交变电压信号相位相同的电压信号。
地址 日本京都府京都市中京区西之京桑原町1番地