| 发明名称 | 存储器装置及其检测方法 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种存储器装置的检测方法。存储器装置包括多个存储单元以及分别连接该多个存储单元的栅极与漏极的多条第一传导线与第二传导线。此检测方法包括：在一读取程序期间，提供一正电压至该多个第一传导线之一，以选择开启该多个存储单元之一，并提供一负电压至其余第一传导线，以关闭未选择开启的其余存储单元。 | ||
| 申请公布号 | CN103366828A | 申请公布日期 | 2013.10.23 |
| 申请号 | CN201210102330.2 | 申请日期 | 2012.04.10 |
| 申请人 | 旺宏电子股份有限公司 | 发明人 | 洪俊雄;陈耕晖;张钦鸿;郑家丰 |
| 分类号 | G11C29/44(2006.01)I;G11C16/26(2006.01)I | 主分类号 | G11C29/44(2006.01)I |
| 代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人 | 宋焰琴 |
| 主权项 | 一种存储器装置的检测方法，该存储器装置包括多个存储单元以及分别连接该多个存储单元的栅极与漏极的多条第一传导线与第二传导线，该检测方法包括：在一读取程序期间，提供一正电压至该多个第一传导线之一，以选择开启该多个存储单元之一，并提供一负电压至其余该多个第一传导线，以关闭未选择开启的其余该多个存储单元。 | ||
| 地址 | 中国台湾新竹科学工业园区力行路16号 | ||