发明名称 |
存储器、通过测试机台对存储器进行测试的方法 |
摘要 |
一种存储器及通过机台对存储器进行测试的方法。所述存储器包括:适于检测存储器的性能参数的检测节点和适于接收测试数据的数据节点,还包括:复用引脚,适于向所述数据节点提供测试数据或者通过所述检测节点检测存储器的性能参数;识别单元,连接所述复用引脚,适于在所述复用引脚提供测试数据且所述测试数据包含预设控制数据时输出第一切换信号,否则输出第二切换信号;切换单元,连接所述识别单元,适于在所述第一切换信号的控制下将所述复用引脚与所述检测节点连接;所述切换单元还适于在所述第二切换信号的控制下将所述复用引脚与所述数据节点连接。本发明存储器在并行测试时的数量增加,从而提高了并行测试的效率。 |
申请公布号 |
CN103366827A |
申请公布日期 |
2013.10.23 |
申请号 |
CN201310261431.9 |
申请日期 |
2013.06.26 |
申请人 |
上海宏力半导体制造有限公司 |
发明人 |
钱亮 |
分类号 |
G11C29/12(2006.01)I |
主分类号 |
G11C29/12(2006.01)I |
代理机构 |
北京集佳知识产权代理有限公司 11227 |
代理人 |
骆苏华 |
主权项 |
一种存储器,包括:适于检测存储器的性能参数的检测节点和适于接收测试数据的数据节点,其特征在于,还包括:复用引脚,适于向所述数据节点提供测试数据或者通过所述检测节点检测存储器的性能参数;识别单元,连接所述复用引脚,适于在所述复用引脚提供测试数据且所述测试数据包含预设控制数据时输出第一切换信号,否则输出第二切换信号;切换单元,连接所述识别单元,适于在所述第一切换信号的控制下将所述复用引脚与所述检测节点连接;所述切换单元还适于在所述第二切换信号的控制下将所述复用引脚与所述数据节点连接。 |
地址 |
201203 上海市浦东新区浦东张江高科技园区祖冲之路1399号 |