基于PXI总线构架的射频测试单元

摘要

一种基于PXI总线构架的射频测试单元，主要包括一个嵌入式图形控制处理器S3C2440、PXI总线、6级同轴开关、第一高通滤波器、第二高通滤波器、低通滤波器、第一陷波器、第二陷波器、第三陷波器、第一放大器和第二放大器组成，该PXI总线构架的射频测试单元克服了在射频终端设备进行测试过程中，不同测试项目需要不同信号处理路径的问题，可将所有核准辐射骚扰及辐射杂散指标的测试链路进行系统集成，避免了手动测试带来的误差，提高了测试准确度和测试效率。

主权项

一种基于PXI总线构架的射频测试单元，其特征在于：主要包括一个数字控制处理器S3C2440、最大峰值传输速率为132MB/s的32‑bit、33MHzPXI总线、6级同轴开关、第一高通滤波器、第二高通滤波器、低通滤波器、第一陷波器、第二陷波器、第三陷波器、第一放大器和第二放大器组成，其中，数字处理器S3C2440通过PXI总线用于控制6级同轴开关的开通和关断，被检信号通过第一级同轴开关与第一高通滤波器、第二高通滤波器以及低通滤波器相连，滤波后的信号再通过第二级和第三级同轴开关与陷波器相连，陷波后的信号通过第四级同轴开关和第五级同轴开关与第一放大器、第二放大器相连，最后通过第六级同轴开关与终端相连；所述第一高通滤波器为1.6GHz高通滤波器，主要完成对1.60GHz以下信号进行滤波，保留1.60GHz以上信号顺利通过测试链路；第二高通滤波器为2.4GHz高通滤波器主要完成对2.40GHz以下信号进行滤波，保留2.40GHz以上信号顺利通过测试链路；低通滤波器为800MHz低通滤波器，主要完成对800MHz以上信号进行滤波，保留800MHz以下信号顺利通过测试链路；其中第一陷波器采用TD2010‑2025MHz陷波器，用以消除TD2010‑2025MHz频段内的主信号，然后将其他信号送入放大器模块，对信号进行放大；第二陷波器采用TD1880‑1900MHz陷波器，用以消除TD1880‑1900MHz频段内的主信号，然后将其他信号送入放大器模块，对信号进行放大；第三陷波器采用TD1880‑1920MHz陷波器，用以消除TD1880‑1920MHz频段内的主信号，被陷波后的被检信号送入放大器模块，对信号进行放大。所述的第一放大器为6.0‑18.0GHz，34dB放大器10S6G18A或20S6G18，第二放大器为0.1‑6.0GHz，27dB放大器GNA‑589。