发明名称 半导体器件
摘要 本实用新型提供一种半导体器件,包含:位于沟槽中的场板(13);相邻沟槽之间第一导电型的源区(8);相邻沟槽之间源区(8)下方的第二导电型的体区(7);电介质层(17)上的互连层(11),其中互连层(11)经由电介质层(17)中的至少两个接触孔电连接到同一场板(13),其中所述源区和/或体区比体区下面相邻沟槽之间的台面漂移区宽。
申请公布号 CN203250741U 申请公布日期 2013.10.23
申请号 CN201320118515.2 申请日期 2013.03.15
申请人 英飞凌科技奥地利有限公司 发明人 O.布兰克;R.西米尼克
分类号 H01L29/40(2006.01)I;H01L29/78(2006.01)I;H01L29/739(2006.01)I 主分类号 H01L29/40(2006.01)I
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人 曲宝壮;李浩
主权项 一种半导体器件,包含: 位于沟槽中的场板(13);相邻沟槽之间第一导电型的源区(8);相邻沟槽之间源区(8)下方的第二导电型的体区(7);电介质层(17)上的互连层(11),其中互连层(11)经由电介质层(17)中的至少两个接触孔电连接到同一场板(13),其中所述源区和/或体区比体区下面相邻沟槽之间的台面漂移区宽。
地址 奥地利菲拉赫