一种可寻址测试芯片版图的生成方法

摘要

本发明涉及集成电路测试芯片领域，公开了一种可寻址测试芯片版图的生成方法，包括以下步骤：（1）选择IP；（2）根据设计规则将测试结构摆放成阵列；（3）IP和测试结构阵列自动连接绕线产生测试芯片版图。本发明根据可寻址测试的优点及测试程序根据设计信息自动生成，故测试速度迅速且测试结果精确；本发明生成的软件可以应用到行业内标准的参数测试机中；本发明测试精度可达到pA级。本发明自动化生成不仅大大缩短了测试芯片的开发时间，降低了人力成本、避免了人工绘图带来的设计错误，还提高了可寻址测试芯片的可延展性和重复使用力，为快速应对制程变更、工艺节点转移提供了有力保障。

主权项

一种可寻址测试芯片版图的生成方法，其特征在于包括以下步骤：（1）选择IP；（2）根据设计规则将测试结构摆放成阵列；（3）IP和测试结构阵列自动连接绕线产生测试芯片版图。