发明名称 一种干法筛分物料及平均粒径测量的方法及筛分装置
摘要 本发明公开了一种干法筛分石膏及其平均粒径测量方法,步骤包括:准确称取干燥后的脱硫石膏于标准筛顶层筛面,盖上顶盖于50~55℃条件下预热40~50min后,置于振筛机上筛分5~10min;筛分结束后,将标准筛及石膏再次预热40~50min,振筛5~10min;准确称量各层筛面石膏颗粒质量,计算石膏平均粒径。本发明还公开了用于上述方法的筛分装置。本发明所述方法和装置具有简单、实用性强、快速准确等特点,同时也适应于其他易受潮,粒径在1~100μm物料的筛分及平均粒径测量。
申请公布号 CN102441526B 申请公布日期 2013.10.23
申请号 CN201110404857.6 申请日期 2011.12.08
申请人 浙江天蓝环保技术股份有限公司 发明人 杨有余;莫建松;盛海强;程常杰
分类号 B07B1/28(2006.01)I;B07B1/46(2006.01)I;G01N15/02(2006.01)I;G01N5/00(2006.01)I 主分类号 B07B1/28(2006.01)I
代理机构 杭州天勤知识产权代理有限公司 33224 代理人 胡红娟
主权项 一种干法筛分石膏及平均粒径测量的方法,其特征在于,包括以下步骤:(1)轻压、捏碎石膏中结块颗粒,于45~55℃条件下恒温10~15h;(2)将石膏干燥冷却至室温后,称量35~45g石膏于筛分装置的顶层筛面,将筛分装置及称量好的石膏置于50~55℃条件下预热40~50min,一次筛分5~10min;(3)筛分结束后将筛分装置和石膏置于50~55℃条件下再次预热40~50min,二次筛分5~10min;(4)二次筛分结束后,将各层筛面石膏颗粒收集、称量获得各层筛面石膏质量,用调和平均粒径计算公式计算石膏平均粒径;所述石膏纯度在65%以上,石膏中CaCO3含量低于15%,其他杂质的总质量含量低于20%;所述的筛分环境为:空气湿度保持在75%以下。
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