发明名称 |
一种干法筛分物料及平均粒径测量的方法及筛分装置 |
摘要 |
本发明公开了一种干法筛分石膏及其平均粒径测量方法,步骤包括:准确称取干燥后的脱硫石膏于标准筛顶层筛面,盖上顶盖于50~55℃条件下预热40~50min后,置于振筛机上筛分5~10min;筛分结束后,将标准筛及石膏再次预热40~50min,振筛5~10min;准确称量各层筛面石膏颗粒质量,计算石膏平均粒径。本发明还公开了用于上述方法的筛分装置。本发明所述方法和装置具有简单、实用性强、快速准确等特点,同时也适应于其他易受潮,粒径在1~100μm物料的筛分及平均粒径测量。 |
申请公布号 |
CN102441526B |
申请公布日期 |
2013.10.23 |
申请号 |
CN201110404857.6 |
申请日期 |
2011.12.08 |
申请人 |
浙江天蓝环保技术股份有限公司 |
发明人 |
杨有余;莫建松;盛海强;程常杰 |
分类号 |
B07B1/28(2006.01)I;B07B1/46(2006.01)I;G01N15/02(2006.01)I;G01N5/00(2006.01)I |
主分类号 |
B07B1/28(2006.01)I |
代理机构 |
杭州天勤知识产权代理有限公司 33224 |
代理人 |
胡红娟 |
主权项 |
一种干法筛分石膏及平均粒径测量的方法,其特征在于,包括以下步骤:(1)轻压、捏碎石膏中结块颗粒,于45~55℃条件下恒温10~15h;(2)将石膏干燥冷却至室温后,称量35~45g石膏于筛分装置的顶层筛面,将筛分装置及称量好的石膏置于50~55℃条件下预热40~50min,一次筛分5~10min;(3)筛分结束后将筛分装置和石膏置于50~55℃条件下再次预热40~50min,二次筛分5~10min;(4)二次筛分结束后,将各层筛面石膏颗粒收集、称量获得各层筛面石膏质量,用调和平均粒径计算公式计算石膏平均粒径;所述石膏纯度在65%以上,石膏中CaCO3含量低于15%,其他杂质的总质量含量低于20%;所述的筛分环境为:空气湿度保持在75%以下。 |
地址 |
311202 浙江省杭州市萧山区北干街道兴议村 |