测量电阻值的方法及电路

摘要

本发明提供一种测量电阻值的方法及电路，该电路包括：一第一子电路，用以接收一输入电压，并产生一第一电压与一第二电压，该第一电压产生流经一电阻性装置的一第一电流，而该第二电压产生该第二电流；一节点，电性耦接至该电阻性装置，并具有一第三电压，该第三电压产生一第三电流；以及一第二子电路，用以产生一第四电压，其具有一逻辑态，表示该电阻性装置的逻辑态。本发明可以有效率并精确地测量电熔丝电阻值。

主权项

一种用于半导体芯片的方法，该半导体芯片具有与一电阻性装置电性耦接的一第一电路，包括：由该半导体芯片的外部对该第一电路施加一外部输入电压以产生该半导体芯片外部的一外部输出电压；以及依据该外部输出电压的一逻辑态判断该电阻性装置的一逻辑态；利用该外部输入电压以产生该半导体芯片内部的一参考电压与一参考电流；将该半导体芯片内部所产生的该参考电压与该参考电流传输出该半导体芯片的外部；以及依照传输至该半导体芯片外部的与所述外部输出电压不同的该参考电压与该参考电流判断一参考电阻值。