| 发明名称 | 用于使用采样信号之间的差来检测包络的方法和设备 | ||
| 摘要 | 提供一种用于使用采样信号之间的差来检测包络的方法和设备。所述方法包括：基于调制信号的采样信号产生多个采样集，并从所述多个采样集确定一个采样集。所述方法还包括：基于包括在确定的采样集中的采样信号之间的差以及包括在所述多个采样集中除了确定的采样集之外的每个采样集中的采样信号之间的差，确定与包括在确定的采样集中的采样信号之中的采样信号相关的包络分量值。所述方法还包括基于所述包络分量值检测调制信号的包络。 | ||
| 申请公布号 | CN103368887A | 申请公布日期 | 2013.10.23 |
| 申请号 | CN201310071521.1 | 申请日期 | 2013.03.06 |
| 申请人 | 三星电子株式会社 | 发明人 | 尹胜槿;权义根;金尚骏 |
| 分类号 | H04L27/00(2006.01)I | 主分类号 | H04L27/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人 | 王艳娇;张云珠 |
| 主权项 | 一种检测包络的方法，所述方法包括：基于调制信号的采样信号产生多个采样集；从所述多个采样集确定一个采样集；基于包括在确定的采样集中的采样信号之间的差以及包括在所述多个采样集中除了确定的采样集之外的每个采样集中的采样信号之间的差，确定与包括在确定的采样集中的采样信号之中的采样信号相关的包络分量值；基于所述包络分量值检测调制信号的包络。 | ||
| 地址 | 韩国京畿道水原市 | ||