一种MCU芯片失调电压校准方法及装置

摘要

本发明属于芯片内部电参数校准领域，通过了一种MCU芯片失调电压校准方法及装置。在本发明中，通过控制MCU芯片进入运算放大器校准模式，输入0V电压至运算放大器进行放大处理，并对放大处理的数据进行模数转换，判断转换结果是否为0，根据判断结果计算或者增加运算放大器输入端电压来获取运算放大器的失调电压，以此实现了准确的对运算放大器进行失调电压校准，且由于利用运算放大器在正常模式时的输出电压与失调电压进行计算获取校准电压，以此消除了运算放大器的失调电压的离散型和差异性。

主权项

一种MCU芯片失调电压校准方法，所述MCU芯片包括ADC转换单元和运算放大器以及存储单元，所述MCU芯片接有参考电压，其特征在于，所述方法包括以下步骤：发送信号控制所述MCU芯片进入运算放大器失调电压校准模式；输入0V电压至所述运算放大器进行放大处理；控制所述ADC转换单元对所述运算放大器的输出信号进行模数转换；判断所述模数转换的转换结果是否为0，并根据判断结果获取所述运算放大器的失调电压并存入存储单元；获取所述MCU芯片在正常工作模式时所述运算放大器的输出电压；根据所述输出电压和所述失调电压对所述运算放大器进行输出电压校准。