发明名称 一种半导体发光器件的制作方法
摘要 本发明提供一种半导体发光器件的制作方法,包括以下步骤:S1、形成外延片;S2、在所述外延片的p型氮化物层表面涂覆光刻胶后进行光刻处理,以便在相邻芯片之间的间隔区形成光刻胶保护区;S3、在所述p型氮化物层表面和光刻胶保护区表面沉积金属反射层;S4、在所述金属反射层上沉积预定的p电极;S5、将保护区的光刻胶及附着在其上的金属反射层和p电极去除,直至露出p型氮化物层表面;S6、采用研磨抛光的工艺将外延片中的衬底及缓冲层移除,直至露出n型氮化物层表面;S7、在所述n型氮化物层表面沉积预定的n电极;S8、从所述去除的保护区间隔处对准后直接崩裂,分离得到若干单个垂直结构LED芯片。本发明提供的制作方法工艺简单且生产成本低。
申请公布号 CN103367552A 申请公布日期 2013.10.23
申请号 CN201210083758.7 申请日期 2012.03.27
申请人 比亚迪股份有限公司 发明人 张戈
分类号 H01L33/00(2010.01)I 主分类号 H01L33/00(2010.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种半导体发光器件的制作方法,其特征在于,该制作方法包括以下步骤:S1、形成外延片:所述外延片包括在衬底上顺序生长出缓冲层、n型氮化物层、发光层和p型氮化物层;S2、形成保护区:在所述外延片的p型氮化物层表面涂覆光刻胶,对所述光刻胶进行光刻处理,以便在相邻芯片之间的间隔区形成光刻胶保护区;S3、形成反射层:在所述p型氮化物层表面和光刻胶保护区表面沉积金属反射层;S4、形成p电极:在所述金属反射层上沉积预定的p电极;S5、去除保护区:将保护区的光刻胶及附着在其上的金属反射层和p电极去除,直至露出被光刻胶覆盖的p型氮化物层表面;S6、去除衬底及缓冲层:采用研磨抛光的工艺将外延片中的衬底及缓冲层移除,直至露出n型氮化物层表面;S7、形成n电极:在所述n型氮化物层表面沉积预定的n电极;S8、形成单个芯片:从所述去除的保护区间隔处对准,依次进行直接崩裂,分离得到若干单个垂直结构LED芯片。
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