发明名称 电容测量电路
摘要 本发明公开一种电容测量电路,本发明之电容测量电路中,与外部电容接触之焊垫设置在反馈回路内部,并且,随着依次增加电容值,通过焊垫传递之杂讯影响减小,因此,能够测量出正确之电容值。并且,由于周期性检测接触之电容,从而能够消除杂讯之影响,并具有数位滤波器而能够获得稳定之电容值。
申请公布号 TWI412756 申请公布日期 2013.10.21
申请号 TW099105196 申请日期 2010.02.23
申请人 艾勒博科技股份有限公司 南韩 发明人 文炳埈;韩相润;洪在锡;郑德暎
分类号 G01R27/26 主分类号 G01R27/26
代理机构 代理人 詹铭文 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1;萧锡清 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1
主权项
地址 南韩
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