发明名称 贯通电极的形成方法与半导体基板
摘要 本发明的课题在于提供一种贯通电极的形成方法,其中,可不必在维持高温气氛的状态对熔融金属进行处理,简化工序和装置,另外与采用导电膏的场合相比较,可高密度地将金属填充于贯通孔内。形成在Si基板(10)的外面具有开口的第1非贯通孔(21);在第1非贯通孔(21)的底部具有小于第1非贯通孔(21)的开口的第2非贯通孔(22),在第1非贯通孔(21)的底部放置固体金属(50)。将Si基板(10)放置于减压气氛下,将其加热到固体金属(50)的软化点附近。维持加热状态,从减压气氛转移到加压气氛,将已软化或熔融的金属(50)填充于第2非贯通孔(22)中。
申请公布号 CN101826473B 申请公布日期 2013.10.16
申请号 CN201010128069.4 申请日期 2010.03.05
申请人 TDK株式会社 发明人 曾我部智浩;土门孝彰;井之口大辅;高木干夫;远池健一
分类号 H01L21/60(2006.01)I;H01L23/485(2006.01)I 主分类号 H01L21/60(2006.01)I
代理机构 北京三幸商标专利事务所 11216 代理人 刘激扬
主权项 一种贯通电极的形成方法,该方法包括:非贯通孔形成工序,其中,在半导体基板的规定位置,形成在上述半导体基板的外面具有开口的第1非贯通孔、在上述第1非贯通孔的底部具有小于上述第1非贯通孔的开口的第2非贯通孔,由此形成2节状的非贯通孔;种子层形成工序,其中,在上述2节状的非贯通孔的内面上形成绝缘层,并且在上述绝缘层上形成提高与固体金属的紧密粘接性的种子层;固体金属设置工序,其中,呈没有进入上述第2非贯通孔中的形状的固体金属设置于上述第1非贯通孔上;固体金属软化工序,其中,在减压气氛中对上述固体金属加热,将上述固体金属软化或熔融,通过上述已软化或熔融的金属,充满上述第1非贯通孔内的至少一部分,将上述第2非贯通孔的开口封闭;金属填充工序,其中,通过使上述半导体基板为加压气氛,将上述已软化或熔融的金属填充于上述第2非贯通孔中;去除工序,其中,去除上述半导体基板中的针对厚度方向,上述第1和第2非贯通孔不存在的部分。
地址 日本国东京都