发明名称 白光干涉杨氏模量测量仪
摘要 本实用新型公开了一种白光干涉杨氏模量测量仪,基于迈克尔逊干涉仪,增加了一个45度反光镜M4和反光镜M5,从而可以调整用于产生干涉的第一光程与第二光程为等光程,同时增加了第一滑动底座,可利用其上的显微镜观测切线位置来得到金属丝直径,通过观察白光干涉来测定金属丝微小伸长量,使其测量精度达到0.1um。利用显微镜观察及精密蜗轮蜗杆传动系统测量金属丝直径,精度达0.1um,比传统螺旋测微仪测量精度高出100倍。借助标尺及传动系统测量金属丝长度,在测量精度上比用传统的米尺测量实现了大幅提升。
申请公布号 CN203241305U 申请公布日期 2013.10.16
申请号 CN201320192982.X 申请日期 2013.04.17
申请人 周雄 发明人 周雄;郭涛
分类号 G01N3/14(2006.01)I;G01N3/06(2006.01)I 主分类号 G01N3/14(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种白光干涉杨氏模量测量仪,包括:支撑台(101),平行设置于支撑台上表面的第一导轨(102)、第二导轨(103),沿所述第一、第二导轨之间的中轴线设置于支撑台一端的第一观察镜(104)以及设置于另一端的定滑轮(105),从第一观察镜到定滑轮方向上在第一、第二导轨上依次设置第一固定支架(106)、第一滑动底座(107)、第二滑动底座(108),所述第一固定支架和第二滑动底座上相对地一侧分别沿中轴线设有金属线固定点,用于固定沿中轴线连接的测试金属线,所述第二滑动底座的另一侧沿中轴线设有连接线固定点,用于固定穿过定滑轮的连接重物的连接线;所述第一固定支架(106)上沿中轴线设置与中轴线成45度角的分光板(M1)、所述第二滑动底座上设置有垂直穿过中轴线的第二反射镜(M2);所述支撑台上在第一固定支架的分光板(M1)一侧的位置上设置有光源(M0),所述第一固定支架上在分光板(M1)的另一侧依次设置有与中轴线成45度角的补偿板(M3)和与中轴线成45度角的第三反射镜(M4),所述第一滑动底座上设置有第二固定支架(109),所述第二固定支架的一端设置有与第二反光镜(M2)平行且同向反射的第一反光镜(M5),所述分光板(M1)到第二反光镜(M2)之间的第一光程和分光板(M1)经补偿板(M3)、第三反射镜(M4)到第一反射镜(M5)之间的第二光程可经调解第一滑动底座满足干涉条件。
地址 050031 河北省石家庄市裕华区槐安东路136号石家庄经济学院物理实验中心