发明名称 |
具有用于改善用于认证实体的时间估计的准确度的电路的存储器器件和其使用方法 |
摘要 |
公开了具有用于改善用于认证实体的时间估计的准确性的电路的存储器器件和使用其的方法。在一个实施例中存储器器件接收认证实体的请求。在试图认证该实体之前,存储器器件确定是否需要新的时间戳。如果需要新的时间戳,则存储器器件接收新的时间戳,然后试图使用基于该新的时间戳的时间估计来认证该实体。在另一实施例中,存储器器件包括指定何时需要新的时间戳的多个不同的时间戳更新策略(TUP),且确定是否需要新的时间戳的确定是基于与该实体相关的TUP的。公开了其他实施例,且各个实施例可以单独或组合使用。 |
申请公布号 |
CN101779208B |
申请公布日期 |
2013.10.16 |
申请号 |
CN200880102320.0 |
申请日期 |
2008.06.05 |
申请人 |
桑迪士克科技股份有限公司 |
发明人 |
迈克尔·霍尔茨曼;罗特姆·西拉;罗恩·巴尔齐莱;法布里斯·E·乔甘德-库洛姆 |
分类号 |
G06F21/10(2013.01)I;G06F21/72(2013.01)I |
主分类号 |
G06F21/10(2013.01)I |
代理机构 |
北京市柳沈律师事务所 11105 |
代理人 |
黄小临 |
主权项 |
一种对于存储器器件认证实体的方法,该方法包括:在存储器器件中:接收使用基于时间的认证技术认证实体的请求;在试图认证该实体之前,确定是否需要新的时间戳;如果需要新的时间戳,则接收新的时间戳,然后试图使用基于该新的时间戳的时间估计来认证该实体;以及如果不需要新的时间戳,则使用存储器器件中的时间计数器相对于先前接收的时间戳测量存储器器件的活动时间,其中,所述时间计数器仅当所述存储器器件活动时才运行;通过将一段时间段上的所述存储器器件先前测量的活动时间与该段时间段上的实际时间相比较,来确定该段时间段上的所述存储器器件先前测量的活动时间的准确度,其中,不准确度至少部分由所述存储器器件的当机时间导致;基于所确定的准确度来调整测量的活动时间;通过将调整后的测量的活动时间添加到所接收的时间戳来生成时间估计;以及试图使用该生成的时间估计来认证该实体。 |
地址 |
美国得克萨斯州 |