发明名称 |
用于光分路器的对准耦合监测装置 |
摘要 |
本实用新型公开了一种用于光分路器的对准耦合监测装置,包括:集成光源、芯片、一单芯光纤阵列、多芯光纤阵列和监视器,所述芯片与监视器之间设置有一反射镜,所述集成光源通过单芯光纤阵列和芯片经反射镜90度反射至监视器,所述监视器的输出端连接一显示器,所述反射镜的下方设置有一移动承载板;所述集成光源连接单芯光纤阵列,所述单芯光纤阵列和多芯光纤阵列之间放置芯片,所述多芯光纤阵列的输出端连接一用于调整及判断耦合状态的光学测量仪器。通过上述方式,本实用新型能够提高光纤与芯片对准效率,且操作方便,用于广泛,并提高了产品成品率。 |
申请公布号 |
CN203241576U |
申请公布日期 |
2013.10.16 |
申请号 |
CN201320285617.3 |
申请日期 |
2013.05.23 |
申请人 |
苏州新大诚科技发展股份有限公司 |
发明人 |
陈磊 |
分类号 |
G02B6/38(2006.01)I |
主分类号 |
G02B6/38(2006.01)I |
代理机构 |
南京正联知识产权代理有限公司 32243 |
代理人 |
顾伯兴 |
主权项 |
一种用于光分路器的对准耦合监测装置,其特征在于,包括:集成光源、芯片、一单芯光纤阵列、多芯光纤阵列和监视器,所述芯片与监视器之间设置有一反射镜,所述集成光源通过单芯光纤阵列和芯片经反射镜90度反射至监视器,所述监视器的输出端连接一显示器,所述反射镜的下方设置有一移动承载板;所述集成光源连接单芯光纤阵列,所述单芯光纤阵列和多芯光纤阵列之间放置芯片,所述多芯光纤阵列的输出端连接一用于调整及判断耦合状态的光学测量仪器。 |
地址 |
215021 江苏省苏州市苏州工业园区通园路199号联发工业园5号楼 |