发明名称 雷射制程参数调校方法及自动参数调校之雷射加工机
摘要 一种雷射制程参数调校方法,用以调校Q开关雷射之复数个雷射参数,包含下列步骤:以实验取得雷射参数之候选数值范围,雷射参数包含焦距深度、Q开关频率及雷射功率。自雷射参数之候选数值范围之上下限数值及中间值之组合中,以实验取得符合制程品质需求之最佳参数数值组合。根据最佳参数数值组合,以二分法更新雷射参数之候选数值范围。重复前一步骤直至雷射参数之候选数值范围之中间值至上下限数值之间距符合雷射参数之最小可设定解析度。一种调校脉冲式雷射之复数个雷射参数之调校方法及一种自动参数调校之雷射加工机亦在此提出。
申请公布号 TWI411484 申请公布日期 2013.10.11
申请号 TW099139588 申请日期 2010.11.17
申请人 李俊豪 台北市大安区忠孝东路4段52号7楼 发明人 李俊豪
分类号 B23K26/00;C03B33/09 主分类号 B23K26/00
代理机构 代理人 李文贤 新北市板桥区民生路1段33号17楼之3
主权项
地址 台北市大安区忠孝东路4段52号7楼