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<p>Es werden Verfahren und Vorrichtungen zur Bestimmung eines kritischen Winkels der Totalreflexion, insbesondere bei TIRF-Mikroskopie, bereitgestellt. Hierzu wird eine Probe (15) unter einem Einfallswinkel (117) beleuchtet und beispielsweise mittels eines Bildsensors (110) ein Bild der Probe aufgenommen. Auf Basis von Bildern bei verschiedenen Beleuchtungswinkeln wird dann beispielsweise auf Basis einer Kontrastanalyse der kritische Winkel bestimmt.</p> |
