| 发明名称 | 解析存储器操作类型错误的方法及其装置 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种解析存储器操作类型错误的方法及其装置，属于半导体技术领域，其方法包括：通过建立不同错误类型的操作错误与对应操作电压的对应关系；并在不同的操作电压下对存储器进行操作，获得对所述存储器进行操作时对应的多个操作错误；最后，根据对所述存储器进行操作时对应的多个操作错误，辨析不同操作错误的错误类型。本发明通过上述方法实现了使用一套成体系的方案，从而分析出不同类型的存储器操作错误。 | ||
| 申请公布号 | CN103345942A | 申请公布日期 | 2013.10.09 |
| 申请号 | CN201310276091.7 | 申请日期 | 2013.07.03 |
| 申请人 | 上海华力微电子有限公司 | 发明人 | 柯遥;魏文;蔡恩静;李强 |
| 分类号 | G11C29/08(2006.01)I | 主分类号 | G11C29/08(2006.01)I |
| 代理机构 | 上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31275 | 代理人 | 吴世华;林彦之 |
| 主权项 | 一种解析存储器操作类型错误的方法，其特征在于，包括：建立不同错误类型的操作错误与对应操作电压的对应关系；在不同的操作电压下对存储器进行操作，获得对所述存储器进行操作时对应的多个操作错误；根据对所述存储器进行操作时对应的多个操作错误，辨析不同操作错误的错误类型。 | ||
| 地址 | 201210 上海市浦东新区张江高科技园区高斯路568号 | ||