发明名称 |
flash抗编程串扰的优化方法 |
摘要 |
本发明公开一种flash抗编程串扰的优化方法,应用于一优化页面的设计工艺中,其特征在于,采用如下步骤:提供一样本页面架构;对所述样本页面架构内的所有样本页面进行取样,统计每个取样样本页面内最差字节的编程串扰失效的最小串扰次数;设定所述优化页面内最差字节编程串扰的累计次数小于所述最小串扰次数,并根据所述最小串扰次数计算字线根数、每根字线字节长度,得到一系列字线取值;为每个优化页面选取字线根数,并设定每根字线字节长度,形成优化页面。本发明避免了flash在按页面做编程时页面内最差字节出现编程串扰的失效问题,给页面内最差字节足够大的抵抗编程串扰的安全余量,改善了flash芯片最终的产品良率。 |
申请公布号 |
CN103345940A |
申请公布日期 |
2013.10.09 |
申请号 |
CN201310220497.3 |
申请日期 |
2013.06.04 |
申请人 |
上海华力微电子有限公司 |
发明人 |
魏文;李强;蔡恩静 |
分类号 |
G11C16/34(2006.01)I;G11C16/08(2006.01)I |
主分类号 |
G11C16/34(2006.01)I |
代理机构 |
上海申新律师事务所 31272 |
代理人 |
竺路玲 |
主权项 |
一种flash抗编程串扰的优化方法,应用于一优化页面的设计工艺中,其特征在于,采用如下步骤:提供一样本页面架构,该样本页面架构包括若干个样本页面,每个所述样本页面均包括一根源线和与该源线相连的多根字线;对所述样本页面架构内的所有样本页面进行取样,统计每个取样样本页面内最差字节的编程串扰失效的最小串扰次数;设定所述优化页面内最差字节编程串扰的累计次数小于所述最小串扰次数,并根据所述最小串扰次数计算字线根数、每根字线字节长度,得到一系列字线取值;根据所述一系列字线取值,为每个优化页面选取字线根数,并设定每根字线字节长度,形成优化页面;其中,所述样本页面内最差字节为样本页面内最容易遭受编程串扰失效的字节,所述优化页面内最差字节为优化页面内最容易遭受编程串扰失效的字节。 |
地址 |
201210 上海市浦东新区张江高科技园区高斯路568号 |