发明名称 |
测试治具的快速升降结构 |
摘要 |
一种测试治具的快速升降结构,包括:一基座,用以固定于供被检测物检测使用的座体上,该基座凹设有一滑穴,并贯穿一轴孔;一滑座,滑置于该基座的滑穴中;以及一联动轴,含有一轴段,枢装于该基座的轴孔中,并于该轴段的第一端,轴向地突伸一联动段,令该联动段轴向套接该滑座,并令该联动轴的联动段与滑座上,设有至少一组对应的导引槽及导销,该导销系伸入于该导引槽中,且令该导引槽的两端投影在一平行该滑座的滑动方向的平面上时,相隔一距离,使旋转该联动轴时,可驱使该导销于该导引槽中产生相对滑移,而使该滑座沿该滑穴快速地升降,以快速迫紧或释放该被检测物。 |
申请公布号 |
CN203232051U |
申请公布日期 |
2013.10.09 |
申请号 |
CN201320243345.0 |
申请日期 |
2013.05.08 |
申请人 |
萧德兴 |
发明人 |
萧德兴 |
分类号 |
G01R1/02(2006.01)I;G01R1/04(2006.01)I |
主分类号 |
G01R1/02(2006.01)I |
代理机构 |
北京天平专利商标代理有限公司 11239 |
代理人 |
孙刚 |
主权项 |
一种测试治具的快速升降结构,其特征在于包括:一基座,固定于供被检测物检测使用的座体上,该基座凹设有一滑穴,并贯穿一轴孔;一滑座,滑置于该基座的滑穴中;以及一联动轴,含有一轴段,该轴段枢装于该基座的轴孔中,并于该轴段的第一端轴向地突伸一联动段,该联动段轴向套接该滑座,并该联动轴的联动段与滑座上设有至少一组对应的导引槽及导销,该导销伸入于该导引槽中,且该导引槽的两端投影在一平行该滑座的滑动方向的平面上时相隔一距离以于旋转该联动轴时驱使该导销于该导引槽中产生相对滑移而驱使该滑座沿该滑穴升降。 |
地址 |
中国台湾彰化县二水乡伍伯村过圳路298号之2 |