发明名称 | 薄膜场效应晶体管及其制备方法 | ||
摘要 | 本发明涉及一种薄膜场效应晶体管及其制备方法。更具体而言,本发明涉及一种包括作为源极和漏极的含有Si、Mo和W中一种以上元素的氧化锌(ZnO系列)电极的薄膜场效应晶体管及其制备方法。 | ||
申请公布号 | CN101669210B | 申请公布日期 | 2013.10.09 |
申请号 | CN200880013494.X | 申请日期 | 2008.04.25 |
申请人 | LG化学株式会社 | 发明人 | 李政炯 |
分类号 | H01L29/786(2006.01)I | 主分类号 | H01L29/786(2006.01)I |
代理机构 | 北京金信立方知识产权代理有限公司 11225 | 代理人 | 黄丽娟;朱梅 |
主权项 | 一种制备薄膜场效应晶体管的方法,该方法包括如下步骤:1)在基板上形成栅极;2)在所述基板和栅极上形成绝缘层;3)在所述绝缘层上形成半导体层;和4)使用含有Si、Mo和W中的一种以上元素的氧化锌电极材料形成源极和漏极,从而与所述半导体层连接,其中,在步骤4)的形成源极和漏极的过程中实施刻蚀工艺,并且该刻蚀工艺为使用含氟气体的干法刻蚀。 | ||
地址 | 韩国首尔 |