发明名称 针对单粒子效应进行加固的开关电容缓冲器电路
摘要 本发明涉及微电子学中的抗辐射集成电路设计领域,为能够对发生在内部浮空节点上的SEE进行屏蔽的开关电容缓冲器。当SEE发生在电路的非浮空节点上时,只会产生瞬态的输出变化,不会引起不可恢复的信号错误。本发明采用的技术方案时,针对单粒子效应进行加固的开关电容缓冲器电路,由采样开关S1、S2,采样电容C1、C2,比较器1和比较器2,驱动输出的运放3,冗余部分4以及一个二输入与非门NAND2和一个反相器INV组成。本发明主要应用于抗辐射集成电路设计。
申请公布号 CN103346776A 申请公布日期 2013.10.09
申请号 CN201310240509.9 申请日期 2013.06.17
申请人 天津大学 发明人 姚素英;李渊清;徐江涛;史再峰;高静
分类号 H03K19/0185(2006.01)I 主分类号 H03K19/0185(2006.01)I
代理机构 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 代理人 刘国威
主权项 一种针对单粒子效应进行加固的开关电容缓冲器电路,其特征是,由采样开关S1、S2,采样电容C1、C2,第一比较器和第二比较器,驱动输出的运放,冗余部分以及一个二输入与非门NAND2和一个反相器INV组成;其中输入信号Vin通过开关S1和S2分别连接至电容C1和C2的上极板,C1和C2的下极板接地;C1和C2的上极板同时分别连接至N型MOS晶体管M5和M12的栅极;C1的上极板分别连接至比较器1的正端和比较器2的负端;比较器1的负端连接至参考电平V1,比较器2的正端连接至参考电平V2;比较器1和比较器2的输出驱动NAND2;NAND2的输出驱动反相器INV;P型MOS晶体管M1和M2的源端接电源,漏端分别与P型晶体管M3和M4的源端相连;M3和M4的漏端分别于N型晶体管M5和M6的漏端相连;M5和M6的源端分别于N型晶体管M7和M8的漏端相连;M7和M8的源端相连,并共同连接至电流大小为ISS的尾电流源;P型晶体管M9的源端连接至电源,漏端连接至P型晶体管M11的源端;M11的漏端与P型晶体管M10的漏端相连,并共同连接至N型晶体管M12的漏端;M12的源端连接至N型晶体管M13与M14的漏端,M13的源端连接至电流大小为ISS/2的尾电流源;M14的源端与M8的源端相连;M1和M2的栅端相连并连接至M1的漏端,同时连接至M10的源端;NAND2的输出驱动M3、M14和M11的栅端;INV的输出驱动M7、M10和M13的栅端;M4的栅端接地,M6的栅端和漏端相连构成输出Vout;M8的栅连电源;M9的栅端和漏端相连。
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