发明名称 一种磁电材料磁学性能同步测试装置
摘要 一种磁电材料磁学性能同步测试装置,涉及磁电材料的测试。设有电磁铁、直流电源、信号发生器、屏蔽罩、亥姆赫兹线圈、锁相放大器、霍尔探头、探测线圈、磁通计、高斯计、应变片、应变仪、数据采集装置、计算机;亥姆赫兹线圈放置在电磁铁的磁隙中,信号发生器输出端与锁相放大器输入端连接,样品的磁电信号输出端接锁相放大器输入接口,锁相放大器输出端接数据采集装置输入端,高斯计输出端接数据采集装置输入端,磁通计输出端接数据采集装置输入端,应变仪与数据采集装置输入端连接,霍尔探头放置于样品附近,霍尔探头接入高斯计,探测线圈缠绕在样品周围,探测线圈输出端接磁通计输入端,应变片贴在样品的表面,应变片与应变仪连接。
申请公布号 CN103344926A 申请公布日期 2013.10.09
申请号 CN201310287730.X 申请日期 2013.07.10
申请人 厦门大学 发明人 施展;邓数文;陈来柱;佟永帅;薛昊;杨水源;卢勇;王萍;刘兴军;张锦彬;黄艺雄
分类号 G01R33/12(2006.01)I;G01R33/14(2006.01)I;G01R33/18(2006.01)I 主分类号 G01R33/12(2006.01)I
代理机构 厦门南强之路专利事务所(普通合伙) 35200 代理人 马应森
主权项 一种磁电材料磁学性能同步测试装置,其特征在于设有电磁铁、直流电源、信号发生器、屏蔽罩、亥姆赫兹线圈、锁相放大器、霍尔探头、探测线圈、磁通计、高斯计、应变片、应变仪、数据采集装置、计算机;电磁铁由直流电源驱动,亥姆赫兹线圈放置在电磁铁的磁隙中,样品放置在亥姆赫兹线圈中,信号发生器的同步输出端与锁相放大器的参考信号输入端连接,样品的磁电信号输出端接锁相放大器的输入接口,锁相放大器的输出端接数据采集装置的输入端,高斯计的磁场信号输出端接数据采集装置的输入端,磁通计的输出端接数据采集装置的输入端,应变仪与数据采集装置的输入端连接,霍尔探头放置于样品附近,霍尔探头接入高斯计,探测线圈缠绕在样品周围,探测线圈的输出端接磁通计的输入端,应变片贴在样品的表面,应变片与应变仪连接,屏蔽罩罩在霍尔探头和探测线圈上,计算机与数据采集装置相连。
地址 361005 福建省厦门市思明南路422号