发明名称 |
一种磁电材料磁学性能同步测试装置 |
摘要 |
一种磁电材料磁学性能同步测试装置,涉及磁电材料的测试。设有电磁铁、直流电源、信号发生器、屏蔽罩、亥姆赫兹线圈、锁相放大器、霍尔探头、探测线圈、磁通计、高斯计、应变片、应变仪、数据采集装置、计算机;亥姆赫兹线圈放置在电磁铁的磁隙中,信号发生器输出端与锁相放大器输入端连接,样品的磁电信号输出端接锁相放大器输入接口,锁相放大器输出端接数据采集装置输入端,高斯计输出端接数据采集装置输入端,磁通计输出端接数据采集装置输入端,应变仪与数据采集装置输入端连接,霍尔探头放置于样品附近,霍尔探头接入高斯计,探测线圈缠绕在样品周围,探测线圈输出端接磁通计输入端,应变片贴在样品的表面,应变片与应变仪连接。 |
申请公布号 |
CN103344926A |
申请公布日期 |
2013.10.09 |
申请号 |
CN201310287730.X |
申请日期 |
2013.07.10 |
申请人 |
厦门大学 |
发明人 |
施展;邓数文;陈来柱;佟永帅;薛昊;杨水源;卢勇;王萍;刘兴军;张锦彬;黄艺雄 |
分类号 |
G01R33/12(2006.01)I;G01R33/14(2006.01)I;G01R33/18(2006.01)I |
主分类号 |
G01R33/12(2006.01)I |
代理机构 |
厦门南强之路专利事务所(普通合伙) 35200 |
代理人 |
马应森 |
主权项 |
一种磁电材料磁学性能同步测试装置,其特征在于设有电磁铁、直流电源、信号发生器、屏蔽罩、亥姆赫兹线圈、锁相放大器、霍尔探头、探测线圈、磁通计、高斯计、应变片、应变仪、数据采集装置、计算机;电磁铁由直流电源驱动,亥姆赫兹线圈放置在电磁铁的磁隙中,样品放置在亥姆赫兹线圈中,信号发生器的同步输出端与锁相放大器的参考信号输入端连接,样品的磁电信号输出端接锁相放大器的输入接口,锁相放大器的输出端接数据采集装置的输入端,高斯计的磁场信号输出端接数据采集装置的输入端,磁通计的输出端接数据采集装置的输入端,应变仪与数据采集装置的输入端连接,霍尔探头放置于样品附近,霍尔探头接入高斯计,探测线圈缠绕在样品周围,探测线圈的输出端接磁通计的输入端,应变片贴在样品的表面,应变片与应变仪连接,屏蔽罩罩在霍尔探头和探测线圈上,计算机与数据采集装置相连。 |
地址 |
361005 福建省厦门市思明南路422号 |