一种PLC芯片测试系统

摘要

本实用新型公开了一种PLC芯片测试系统。它包括光源、单模光纤阵列、夹具台、多模光纤阵列和光功率计，所述光源的输出端与单模光纤阵列的输入端相连，所述单模光纤阵列的输出端设置在夹具台的一侧，并与夹具台上的PLC芯片的输入端对准，所述多模光纤阵列的输入端设置在夹具台的另一侧，并与夹具台上的PLC芯片的输出端对准，所述多模光纤阵列的输出端与光功率计相连。本实用新型使用多模光纤阵列与PLC芯片的输出端对准，多模光纤阵列的纤芯直径较大，容易与PLC芯片的输出端对准，且使用夹具台定位PLC芯片、单模光纤阵列和多模光纤阵列的位置，提高了测试效率。

主权项

一种PLC芯片测试系统，其特征在于：包括光源（1）、单模光纤阵列（2）、夹具台、多模光纤阵列（3）和光功率计（4），所述光源（1）的输出端与单模光纤阵列（2）的输入端相连，所述单模光纤阵列（2）的输出端设置在夹具台的一侧，并与夹具台上的PLC芯片（5）的输入端对准，所述多模光纤阵列（3）的输入端设置在夹具台的另一侧，并与夹具台上的PLC芯片（5）的输出端对准，所述多模光纤阵列（3）的输出端与光功率计（4）相连。