| 发明名称 | 一种覆盖静态和动态故障的存储器测试方法 | ||
| 摘要 | 本发明提供了一种覆盖静态和动态故障的存储器测试方法，在现有March SS算法的基础上，对March元素以及操作进行设计，使之能覆盖全部的静态故障，以及所有常见的动态故障即与动态读操作相关的动态故障以及与动态写操作相关的动态故障。 | ||
| 申请公布号 | CN103337258A | 申请公布日期 | 2013.10.02 |
| 申请号 | CN201310248623.6 | 申请日期 | 2013.06.21 |
| 申请人 | 电子科技大学 | 发明人 | 詹惠琴;周权;张显敞;崔喜乐;胡琳惠 |
| 分类号 | G11C29/08(2006.01)I | 主分类号 | G11C29/08(2006.01)I |
| 代理机构 | 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 | 代理人 | 温利平 |
| 主权项 | 1.一种覆盖静态和动态故障的存储器测试方法，其特征在于，按以下步骤进行：<img file="FDA00003382831300011.GIF" wi="1284" he="322" />其中，M<sub>i</sub>表示测试方法中的第i个March元素，M<sub>i,j</sub>表示测试方法中第i个March元素的第j个操作，如M<sub>1,3</sub>表示第1个March元素中的第3步操作“w0”；<img file="FDA00003382831300012.GIF" wi="37" he="51" />表示按照地址升序方式进行测试，<img file="FDA00003382831300013.GIF" wi="39" he="54" />表示按照地址降序方式进行用测试，<img file="FDA00003382831300014.GIF" wi="38" he="57" />表示对于地址选择顺序没有特殊要求，也就是按照地址升序或者降序的方式进行测试都可以。 | ||
| 地址 | 611731 四川省成都市高新区（西区）西源大道2006号 | ||