发明名称 一种弱磁场测量装置及方法
摘要 本发明公开了一种弱磁场测量装置及方法,所述装置包括:参考线圈、电流采样电阻、直流电源、调制线圈、磁敏电阻、交流电源和测控单元;参考线圈和电流采样电阻串联与直流电源构成电流回路,产生参考磁场;调制线圈和磁敏电阻串联与交流电源构成电流回路,产生调制磁场;参考线圈与调制线圈靠近并保持相对位置状态不变;磁敏电阻位于同时能感应到参考磁场和调制磁场的位置;测控单元通过电流采样电阻检测流过参考线圈的直流电流,通过改变直流电源幅值或极性,并分别检测在不同的幅值或极性下磁敏电阻两端的直流电压分量,然后通过测得的直流电流和直流电压分量,计算得到被测磁场的大小和方向。本发明结构简单、成本低廉,测量结果不受温度影响。
申请公布号 CN102183736B 申请公布日期 2013.10.02
申请号 CN201110047619.4 申请日期 2011.02.28
申请人 上海奥波信息科技有限公司 发明人 彭建学;邹维克
分类号 G01R33/09(2006.01)I 主分类号 G01R33/09(2006.01)I
代理机构 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人 逯长明
主权项 一种弱磁场测量装置,其特征在于,包括:参考线圈、电流采样电阻、直流电源、调制线圈、磁敏电阻、交流电源和测控单元;其中:所述参考线圈和所述电流采样电阻串联,并与所述直流电源构成电流回路,产生参考磁场;所述调制线圈和所述磁敏电阻串联,并与所述交流电源构成电流回路,产生调制磁场;所述参考线圈与所述调制线圈靠近并保持相对位置状态不变;所述磁敏电阻位于同时能感应到参考磁场和调制磁场的位置,感应被测磁场、参考磁场及调制磁场;所述交流电源输出包含n个不同频率分量的交流电流给所述调制线圈,n为不小于1的自然数,且n个不同频率中任两个频率之和及之差不等于其余任一个频率;所述测控单元连接所述电流采样电阻的两端、磁敏电阻的两端、直流电源和交流电源,通过电流采样电阻检测流过参考线圈的直流电流,通过改变直流电源幅值或极性,分别检测在不同的直流电源幅值或极性下磁敏电阻两端的直流电压分量,并通过测得的参考线圈的直流电流和磁敏电阻两端的直流电压分量,计算得到被测磁场的大小和方向。
地址 200070 上海市嘉定区曹新公路1388弄8号5幢298室