发明名称 | 四分之一波片相位延迟量的测量装置和测量方法 | ||
摘要 | 一种四分之一波片相位延迟量的测量装置和测量方法,该装置由准直光源、圆起偏器、光弹调制器、圆检偏器、光电探测器、光弹控制器、锁相放大器和计算机组成。本发明只需一个光弹调制器即可测量四分之一波片的相位延迟量,只需要一个锁相放大器,装置简单,结构紧凑,操作方便。 | ||
申请公布号 | CN103335821A | 申请公布日期 | 2013.10.02 |
申请号 | CN201310250418.3 | 申请日期 | 2013.06.21 |
申请人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明人 | 曾爱军;邓柏寒;刘龙海;朱玲琳;黄惠杰 |
分类号 | G01M11/02(2006.01)I | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I |
代理机构 | 上海新天专利代理有限公司 31213 | 代理人 | 张泽纯 |
主权项 | 一种四分之一波片相位延迟量的测量装置,其特征在于该装置由准直光源(1)、圆起偏器(2)、光弹调制器(3)、圆检偏器(5)、光电探测器(6)、光弹控制器(7)、锁相放大器(8)和计算机(9)组成,上述元部件的位置关系如下:沿所述的准直光源(1)出射的光束前进方向依次是所述的圆起偏器(2)、光弹调制器(3)、圆检偏器(5)和光电探测器(6),在所述的光弹调制器(3)和圆检偏器(5)之间设有待测波片(4)的插口。所述的光弹控制器(7)的第一输出端接所述的光弹调制器(3)的控制端,所述的光弹控制器(7)的第二输出端接所述的锁相放大器(8)的参考信号输入端,所述的光电探测器(6)的输出端接所述的锁相放大器(8)的信号输入端,所述的锁相放大器(8)的信号输出端通过串口接入所述的计算机(9),该计算机(9)安装有与所述的锁相放大器(8)配套的Signaloc2100数据采集程序,该Signaloc2100数据采集程序用于采集锁相放大器(8)输出信号的直流分量和二次谐波分量。 | ||
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