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一种使用低频微振动声光调制检测装置检测型号为HB505光学平台受激振动振幅的方法，其特征在于该方法步骤如下：1）、将探管（13）下端的永久磁体（12）吸附在光学平台台面的中部一位置，由注水管（7）向底部中心孔的孔径为10mm的水箱（8）内注水至标定的高度，永久磁体（12）上表面与水箱（8）内水面的垂直距离为150mm；2）、调整半导体激光器（3）角度，使半导体激光器（3）出射激光束穿过光阑（14），在水箱（8）内水面上的入射点位于水面上对角线相交点位置、入射激光束在水面的入射角（θ）为88.5°；3）、在距探管（13）下端的永久磁体（12）吸附点50cm的光学平台台面上，用质量为300g的带圆锥体橡胶头的重锤，由6cm高度自由落下单击台面，台面的受激振动传递到永久磁体（12）的上表面,再通过探管（13）内的水柱传递到水箱（8）内的水中,在水面上形成表面波,表面波对入射激光束产生调制反射，在水箱（8）内右侧壁上呈现出间距相等的干涉条纹；按干涉条纹处1mm长度对应CCD摄像头（4）所摄图像中20个像素数标定像素当量，用CCD摄像头（4）按每秒20幅连续采集干涉条纹图像，并转换成数字信号输出到计算机（1），计算机（1）按照事先设定的程序进行运算，显示出多列干涉条纹，选择干涉条纹个数最多的一列干涉条纹并计数为N；计算机（1）按下式：A=0.548（N－1）计算出光学平台上探管（13）下端的永久磁体（12）吸附点处的受激最大振幅A，振幅A单位为μm。 |
