双皇冠测试探针

摘要

本实用新型揭示了一种双皇冠测试探针，包括探针头、圆管形针体、连接弹簧及下顶针，探针头由探针爪底座和九个各具一顶点的倒锥形探针爪组成，分成三行三列排布在探针爪底座端部，外周不相邻四个探针爪为低探针爪，剩余外周四个探针爪为高探针爪，低探针爪的高度低于高探针爪的高度，中心探针爪高度等于高探针爪高度。通过在探针爪底座的端部设置九宫格排布的九个探针爪，形成相互套设的双皇冠结构设计，使得测试探针的测试能力增强、测试效果稳定、测试的可靠性增加、具有在测试过程中不易受外界因素影响的特点，有利于芯片生产效率的进一步提高，且本实用新型测试探针双弹簧的设计，能在满足不同长度探针要求的基础上，确保探针的弹力足够大。

主权项

一种双皇冠测试探针，包括探针头、圆管形针体（1）、位于所述圆管形针体（1）内的连接弹簧、及下顶针（2），其特征在于：所述探针头由探针爪底座（3）和九个设置于其上的倒锥形探针爪组成，所述九个探针爪各具有一个顶点、且分成三行三列排布在所述探针爪底座（3）的端部，九个所述探针爪的倒锥形底部拼接成与所述探针爪底座（3）端部贴合的平面圆，其中，外周不相邻的四个探针爪为低探针爪（4），剩余的外周不相邻的四个探针爪为高探针爪（5），所述四个低探针爪（4）的高度、即顶点到底部的距离均相同，所述四个高探针爪（5）的高度、即顶点到底部的距离均相同，所述低探针爪（4）的高度低于所述高探针爪（5）的高度，中心探针爪（6）的高度等于高探针爪（5）的高度。