| 发明名称 | 玻璃配合料均匀度的测定方法 | ||
| 摘要 | 本发明公开了玻璃配合料均匀度的测定方法，包括以下步骤：（1）制样：将玻璃配合料样品和玻璃配合料标准样品制成适合X射线荧光光谱仪测量用的玻璃配合料样片与玻璃配合料标准样片；（2）制作标准曲线：采用所述玻璃配合料标准样片制作各元素或各氧化物对应的标准曲线；（3）测定玻璃配合料样品中的成分：用X射线荧光光谱仪测量玻璃配合料样片中各元素的荧光X射线强度，并根据各元素或各氧化物对应的标准曲线计算出玻璃配合料样品中各元素或各氧化物的含量；（4）根据计算出玻璃配合料样品中各元素或各氧化物的含量，利用以下公式计算玻璃配合料的均匀度：<img file="2013102415194100004DEST_PATH_IMAGE001.GIF" wi="96" he="20" /><img file="438742DEST_PATH_IMAGE002.GIF" wi="92" he="42" /><img file="DEST_PATH_IMAGE003.GIF" wi="147" he="51" /><img file="847726DEST_PATH_IMAGE004.GIF" wi="75" he="45" />由上述公式计算出每种组分的相对离差E、平均离差<img file="322570DEST_PATH_IMAGE006.GIF" wi="18" he="21" />，该玻璃配合料的均匀度<img file="412886DEST_PATH_IMAGE008.GIF" wi="21" he="21" />=100%-<img file="DEST_PATH_IMAGE009.GIF" wi="18" he="21" />。 | ||
| 申请公布号 | CN103323479A | 申请公布日期 | 2013.09.25 |
| 申请号 | CN201310241519.4 | 申请日期 | 2013.06.18 |
| 申请人 | 芜湖东旭光电科技有限公司 | 发明人 | 孙景晓;李兆廷;李震;施敖荣;魏文生;刘成斌 |
| 分类号 | G01N23/223(2006.01)I;G01N1/28(2006.01)I | 主分类号 | G01N23/223(2006.01)I |
| 代理机构 | 代理人 | ||
| 主权项 | 1.玻璃配合料均匀度的测定方法，包括以下步骤：（1）制样：将从配料生产线上所取的玻璃配合料样品制成适合X射线荧光光谱仪测量用的玻璃配合料样片；按照玻璃料方配制玻璃配合料标准样品，将所述玻璃配合料标准样品制成适合X射线荧光光谱仪测量用的玻璃配合料标准样片；（2）制作标准曲线：采用所述玻璃配合料标准样片制作各元素或各氧化物对应的标准曲线；（3）测定玻璃配合料样品中的成分：用X射线荧光光谱仪测量所述玻璃配合料样片中各元素的荧光X射线强度，并根据各元素或各氧化物对应的标准曲线计算出玻璃配合料样品中各元素或各氧化物的含量；（4）根据计算出玻璃配合料样品中各元素或各氧化物的含量，利用以下公式计算玻璃配合料的均匀度：<img file="39074DEST_PATH_IMAGE001.GIF" wi="96" he="20" /><img file="873038DEST_PATH_IMAGE002.GIF" wi="92" he="42" /><img file="823677DEST_PATH_IMAGE003.GIF" wi="147" he="51" /><img file="768499DEST_PATH_IMAGE004.GIF" wi="75" he="45" />上式中：H为均匀度，E为相对离差，S为均方差，<img file="183300DEST_PATH_IMAGE005.GIF" wi="15" he="18" />为平均值，n为试样只数，x<sub>i</sub>为第i个试样某组分的测定值；由上述公式计算出各元素或各氧化物的相对离差E、平均离差<img file="125848DEST_PATH_IMAGE006.GIF" wi="18" he="21" />，该玻璃配合料的均匀度<img file="626099DEST_PATH_IMAGE007.GIF" wi="21" he="21" />=100%-<img file="111963DEST_PATH_IMAGE008.GIF" wi="18" he="21" />。 | ||
| 地址 | 241000 安徽省芜湖市经济技术开发区万春街道纬二次路36号 | ||