发明名称 感测装置
摘要 通过利用波长解析测量方法实现最适合光学波导模式传感器的光学系统,提供小尺寸、稳定和高度灵敏的检测装置。一种检测装置包括:检测板,其中硅层和二氧化硅层以这个次序被布置在石英玻璃基板上;光学棱镜,其可选地粘附到检测板的石英玻璃基板的表面,其中所述表面不提供硅层和二氧化硅层;光照射单元,其配置为将光穿过光学棱镜照射到检测板,并布置成使光以恒定的入射角入射在光学棱镜上;以及光检测单元,其配置为检测从检测板反射的反射光的强度,其中通过检测反射光的特性的变化,检测装置检测检测板的二氧化硅层的表面附近的介电常数的变化,并且其中在光学棱镜中,入射表面和粘附到检测板的粘附表面之间的角度是43°或更小,自光照射单元照射的光入射在所述入射表面上。
申请公布号 CN103328952A 申请公布日期 2013.09.25
申请号 CN201180065674.4 申请日期 2011.11.15
申请人 独立行政法人产业技术综合研究所;信越化学工业株式会社 发明人 藤卷真;秋山昌次;永田和寿
分类号 G01N21/27(2006.01)I 主分类号 G01N21/27(2006.01)I
代理机构 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 代理人 赵蓉民
主权项 一种检测装置,其包括:检测板,其中硅层和二氧化硅层以这个次序被布置在石英玻璃基板上;光学棱镜,其光学地被粘附到所述检测板的石英玻璃基板的表面,其中所述表面不提供所述硅层和所述二氧化硅层;光照射单元,其配置为将光穿过所述光学棱镜照射到所述检测板,并布置为使得光以恒定的入射角入射在所述光学棱镜上;以及光检测单元,其配置为检测从所述检测板反射的反射光的强度,其中通过检测所述反射光的特性的变化,所述检测装置检测所述检测板的二氧化硅层的表面附近的介电常数的变化,以及其中在所述光学棱镜中,入射表面和粘附表面之间的角度是43°或更小,自所述光照射单元照射的光入射在所述入射表面上,所述粘附表面粘附到所述检测板。
地址 日本东京