发明名称 |
四孔超声波校准试块 |
摘要 |
一种四孔超声波校准试块,包括试块本体,试块本体上设有相互平行的第一通孔、第二通孔、第三通孔和第四通孔,第一通孔、第二通孔、第三通孔和第四通孔轴线均垂直于试块本体正面;第一通孔轴线与试块本体顶面间距离为13~17mm,第一通孔轴线与试块本体左侧面间距离为28~32mm;第二通孔轴线与试块本体底面间距离为8~12mm,第二通孔轴线与试块本体左侧面间距离为28~32mm;第三通孔轴线与试块本体顶面间距离为18~22mm,第三通孔轴线与试块本体右侧面间距离为28~32mm;第四通孔轴线与试块本体底面间距离为3~7mm,第四通孔轴线与试块本体右侧面间距离为28~32mm。适用于钢结构产品的检测。 |
申请公布号 |
CN203216908U |
申请公布日期 |
2013.09.25 |
申请号 |
CN201320248559.7 |
申请日期 |
2013.05.09 |
申请人 |
武汉武桥检测工程有限公司 |
发明人 |
杨洪菊;罗建桥 |
分类号 |
G01N29/30(2006.01)I |
主分类号 |
G01N29/30(2006.01)I |
代理机构 |
武汉开元知识产权代理有限公司 42104 |
代理人 |
潘杰 |
主权项 |
一种四孔超声波校准试块,包括试块本体,其特征在于,所述试块本体上设有相互平行的第一通孔、第二通孔、第三通孔和第四通孔,所述第一通孔、第二通孔、第三通孔和第四通孔的轴线均垂直于所述试块本体的正面;所述第一通孔的轴线与所述试块本体顶面之间的距离为13~17mm,所述第一通孔的轴线与所述试块本体左侧面之间的距离为28~32mm;所述第二通孔的轴线与所述试块本体底面之间的距离为8~12mm,所述第二通孔的轴线与所述试块本体左侧面之间的距离为28~32mm;所述第三通孔的轴线与所述试块本体顶面之间的距离为18~22mm,所述第三通孔的轴线与所述试块本体右侧面之间的距离为28~32mm;所述第四通孔的轴线与所述试块本体底面之间的距离为3~7mm,所述第四通孔的轴线与所述试块本体右侧面之间的距离为28~32mm。 |
地址 |
430056 湖北省武汉市经济技术开发区沌口路777号 |