发明名称 四孔超声波校准试块
摘要 一种四孔超声波校准试块,包括试块本体,试块本体上设有相互平行的第一通孔、第二通孔、第三通孔和第四通孔,第一通孔、第二通孔、第三通孔和第四通孔轴线均垂直于试块本体正面;第一通孔轴线与试块本体顶面间距离为13~17mm,第一通孔轴线与试块本体左侧面间距离为28~32mm;第二通孔轴线与试块本体底面间距离为8~12mm,第二通孔轴线与试块本体左侧面间距离为28~32mm;第三通孔轴线与试块本体顶面间距离为18~22mm,第三通孔轴线与试块本体右侧面间距离为28~32mm;第四通孔轴线与试块本体底面间距离为3~7mm,第四通孔轴线与试块本体右侧面间距离为28~32mm。适用于钢结构产品的检测。
申请公布号 CN203216908U 申请公布日期 2013.09.25
申请号 CN201320248559.7 申请日期 2013.05.09
申请人 武汉武桥检测工程有限公司 发明人 杨洪菊;罗建桥
分类号 G01N29/30(2006.01)I 主分类号 G01N29/30(2006.01)I
代理机构 武汉开元知识产权代理有限公司 42104 代理人 潘杰
主权项 一种四孔超声波校准试块,包括试块本体,其特征在于,所述试块本体上设有相互平行的第一通孔、第二通孔、第三通孔和第四通孔,所述第一通孔、第二通孔、第三通孔和第四通孔的轴线均垂直于所述试块本体的正面;所述第一通孔的轴线与所述试块本体顶面之间的距离为13~17mm,所述第一通孔的轴线与所述试块本体左侧面之间的距离为28~32mm;所述第二通孔的轴线与所述试块本体底面之间的距离为8~12mm,所述第二通孔的轴线与所述试块本体左侧面之间的距离为28~32mm;所述第三通孔的轴线与所述试块本体顶面之间的距离为18~22mm,所述第三通孔的轴线与所述试块本体右侧面之间的距离为28~32mm;所述第四通孔的轴线与所述试块本体底面之间的距离为3~7mm,所述第四通孔的轴线与所述试块本体右侧面之间的距离为28~32mm。
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