发明名称 |
承载装置及利用该装置进行晶片转移的方法 |
摘要 |
本发明一般涉及半导体集成电路制造领域,更确切的说,本发明涉及一种承载装置及利用该装置进行晶片转移的方法。本发明一种承载装置及利用该装置进行晶片转移的方法,通过在承载平台上设置可移动的传感器,以针对不同规格和尺寸的晶片而设定传感器的位置,进而利用该可移动的传感器对不同尺寸的晶片进行识别检测,且能准确的检测识别出具有特殊形貌的晶片,以有效避免承载平台中叠片现象的出现,降低因识别不到晶片而发生碎片的危险,进而增大产品的良率,降低工艺成本,且对现有的设备改动小,其兼容性比较强。 |
申请公布号 |
CN103317437A |
申请公布日期 |
2013.09.25 |
申请号 |
CN201310165029.0 |
申请日期 |
2013.05.07 |
申请人 |
上海华力微电子有限公司 |
发明人 |
张冬芳;张守龙;白英英;陈玉文;蒋德念 |
分类号 |
B24B37/27(2012.01)I;H01L21/683(2006.01)I |
主分类号 |
B24B37/27(2012.01)I |
代理机构 |
上海申新律师事务所 31272 |
代理人 |
竺路玲 |
主权项 |
一种承载装置,应用于晶片的研磨工艺中,其特征在于,包括: 一承载平台,该承载平台承载所述晶片; 所述承载平台上设置有至少一个传感器,以识别该承载基台上是否承载有所述晶片; 其中,所述传感器可移动的设置在所述研磨机台上。 |
地址 |
201210 上海市浦东新区张江高科技园区高斯路568号 |