发明名称 磁头用滑块的检查方法以及磁头的制造方法
摘要 磁头用滑块的检查方法及磁头的制造方法。实施方式的检查方法是被研磨处理、且配置为m行n列(m、n为正整数)的矩阵状的多个滑块的检查方法,其具备:第一步骤,检查滑块S[i,j](1≤i≤m,1≤j≤n)中的一行滑块S[1,j]的特性;以及第二步骤,参照上述研磨处理的结果,根据上述特性将上述滑块S[1,1]~S[1,n]分别分类到多个等级的任一个等级,并赋予与该等级建立了对应的系数A(j)。上述检查方法还具备如下的第三步骤:根据使用了从第k列的A(k)到第k+t-1列的A(k+t-1)(1≤k+t-1≤n)的运算结果,将滑块S[1,s](k≤s≤k+t-1)进行分类。
申请公布号 CN103325390A 申请公布日期 2013.09.25
申请号 CN201310085419.7 申请日期 2013.03.18
申请人 株式会社东芝 发明人 小林纱由美;山田涉
分类号 G11B5/127(2006.01)I;G11B5/455(2006.01)I 主分类号 G11B5/127(2006.01)I
代理机构 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人 夏斌;陈萍
主权项 一种磁头用滑块的检查方法,是被研磨处理、且配置为m行n列的矩阵状的磁头用滑块的检查方法,其具备:第一步骤,检查配置有多个的磁头用滑块的滑块S[i,j]中的配置为一行的滑块S[1,j]的特性;第二步骤,参照上述研磨处理的结果,根据上述特性将上述滑块S[1,1]~S[1,n]分别分类到多个等级的某一个等级,并对上述滑块S[1,j]赋予与该等级建立了对应的系数A(j);以及第三步骤,根据使用了对上述滑块S[1,1]~S[1,n]赋予的A(1)~A(n)中的从第k列的A(k)到第k+t‑1列的A(k+t‑1)的运算的结果,将滑块S[1,s]分类到多个组中的一个组,其中,m、n为正整数;1≤i≤m,1≤j≤n,i、j为正整数;1≤k+t‑1≤n,k、t为正整数;k≤s≤k+t‑1,s为正整数。
地址 日本东京都
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