发明名称 荧光材料及采用该荧光材料的闪烁器和放射线检测器
摘要 本发明提供一种在放射线检测器中,发光强度高、且停止照射X射线后经1~10ms短时间后残光小的荧光材料。以Ce作为发光元素,至少包含Gd、Al、Ga、O及Fe,M为Mg、Ti、Ni中的至少一种,可以用下述通式表示。(Gd1-x-zLuxCez)3+a(Al1-u-sGauScs)5-aO12,其中0≤a≤0.15,0≤x≤0.5,0.0003≤z≤0.0167,0.2≤u≤0.6,0≤s≤0.1,Fe、M的浓度为:0.05≤Fe浓度质量ppm≤1,0≤M浓度质量ppm≤50。
申请公布号 CN101617023B 申请公布日期 2013.09.25
申请号 CN200880003871.1 申请日期 2008.02.04
申请人 日立金属株式会社 发明人 中村良平;上田俊介
分类号 C09K11/80(2006.01)I;C09K11/00(2006.01)I;C04B35/44(2006.01)I;C04B35/50(2006.01)I;C01G15/00(2006.01)I;G01T1/20(2006.01)I 主分类号 C09K11/80(2006.01)I
代理机构 北京英特普罗知识产权代理有限公司 11015 代理人 齐永红
主权项 一种具有石榴石结构的放射线检测器用荧光材料,其特征在于:以Ce作为发光元素,至少含有Gd、Al、Ga、O及Fe,和一组分L,其中添加Fe以使Fe的含量为所述荧光材料总量的0.05~1.0质量ppm,且Fe/Ce的质量比为0.5%以下,其组成用下述通式表示:(Gd1‑x‑zLxCez)3+a(Al1‑uGau)5‑aO12其中,对于用波长260nm的激励光激励上述荧光材料时获得的发光频谱,700~850nm波长范围内的最大发光强度与500~600nm波长范围内的最大发光强度的比为3%以下,X射线停止照射后3ms残光强度在500ppm以下;其中:L是Lu和/或Y,0<a≦0.15,0<x<1.0,0.0003≦z≦0.0167,但x+z<1.0,0.2≦u≦0.6。
地址 日本东京都