发明名称 一种可控硅状态测定仪
摘要 本实用新型公开了一种可控硅状态测定仪,包括电源电路、触发电路、测试插座、开关、电阻和发光管,可插入可控硅的测试插座的三个引脚上分别采用导线连接有一组显示电路和一组触发电路以及一个电池组;所述电源电路与待检测的可控硅连接,为待检测的可控硅提供导通电压;触发电路与待检测的可控硅连接,为待检测的可控硅提供触发电压;以及检测结果指示装置,串接在所述电源电路与待检测的可控硅之间,指示待检测的可控硅的检测结果。
申请公布号 CN203217045U 申请公布日期 2013.09.25
申请号 CN201320085392.7 申请日期 2013.02.25
申请人 翁策高 发明人 翁策高
分类号 G01R31/26(2006.01)I 主分类号 G01R31/26(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种可控硅状态测定仪,包括电源电路、触发电路、测试插座、开关、电阻和发光管,其特征在于:可插入可控硅的测试插座的三个引脚上分别采用导线连接有一组显示电路和一组触发电路以及一个电池组;所述电源电路与待检测的可控硅连接,为待检测的可控硅提供导通电压;触发电路与待检测的可控硅连接,为待检测的可控硅提供触发电压;以及检测结果指示装置,串接在所述电源电路与待检测的可控硅之间,指示待检测的可控硅的检测结果。
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