发明名称 光电装置、电子机器及外光检测装置与方法
摘要 适用于排除光电装置本身所射出的光之影响,且适用于检测光电装置周围的外光之光强度。光电装置(1)系具备有:显示装置(100、140),系射出显示光;发光停止装置(120),系使显示光的射出停止;受光装置(131),系于停止射出显示光的期间,接收外光;累计装置(112),系将受光装置所接收的外光的受光量予以累计;以及计算装置(114),系根据受光量的累计值超过预定临限值为止所需的时间,计算出外光的光强度。
申请公布号 TWI409766 申请公布日期 2013.09.21
申请号 TW097142477 申请日期 2008.11.04
申请人 日本显示器西股份有限公司 日本 发明人 二矢雅俊;田尻宪一;小泽裕
分类号 G09G3/34;G02F1/133;G01J1/02 主分类号 G09G3/34
代理机构 代理人 林志刚 台北市中山区南京东路2段125号7楼
主权项
地址 日本