发明名称 |
对被测试元件进行测试的测试装置、用于测试装置的串列传输系统以及记录着使测试装置发挥功能的程式的记录媒体 |
摘要 |
一种半导体测试装置,其包括对被测试元件进行测试的测试单元、以及在测试单元与对测试单元进行控制的控制部之间进行传输资料的传输的串列传输部。串列传输部包括:以预先设定的顺序来发送多个传输资料的资料发送部;使传输资料再发送的再发送控制部;以及确认ID期望值记忆部,其对应附在发送侧所接收到的确认信号上的识别资料的确认ID期望值进行记忆。该再发送控制部根据表示传输资料是否为再发送的资料的再发送计数资讯、以及该确认ID期望值记忆部所记忆的确认ID期望值,来判断再发送的必要性。 |
申请公布号 |
TWI409475 |
申请公布日期 |
2013.09.21 |
申请号 |
TW098142936 |
申请日期 |
2009.12.15 |
申请人 |
爱德万测试股份有限公司 日本 |
发明人 |
小杉真章;田村和干 |
分类号 |
G01R31/26 |
主分类号 |
G01R31/26 |
代理机构 |
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代理人 |
詹铭文 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1;萧锡清 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1 |
主权项 |
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地址 |
日本 |