发明名称 判断压触阻抗的装置及方法
摘要 本发明提供一种位置侦测的装置与方法。位置侦测的装置包含复数条导电条相叠构成的复数个相叠区,其中相叠于任一相叠区的一对被压触导电条在电性接触形成一接触点时构成一被压触相叠区,其中每一被压触相叠区的接触阻抗是依据该对导电条之一与另一在接触点的电位与被压触相叠区的位置来判断。
申请公布号 TWI409687 申请公布日期 2013.09.21
申请号 TW099111892 申请日期 2010.04.02
申请人 禾瑞亚科技股份有限公司 台北市内湖区瑞光路302号11楼 发明人 叶尚泰;陈家铭;何顺隆
分类号 G06F3/045 主分类号 G06F3/045
代理机构 代理人 颜文正 台北市大安区信义路2段136号3楼
主权项
地址 台北市内湖区瑞光路302号11楼