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发明名称
制造具有不同高度接触线之高密集度MOSFET电路的结构与方法
摘要
本发明之具体实施例系提供制造具有不同高度接触线之高密集度MOSFET电路的结构与方法等等。此MOSFET电路包含接触线,位于靠近接触线之第一闸极层和至少一后续的闸极层于此第一闸极层上方。此接触线包含一高度,且此高度低于此第一闸极层和后续的闸极层之结合高度。此MOSFET电路更包含位于靠近闸极层之闸极间隙壁和靠近接触线之单一接触线间隙壁。此闸极间隙壁比接触线间隙壁要高且较厚。
申请公布号
TWI409948
申请公布日期
2013.09.21
申请号
TW096100169
申请日期
2007.01.03
申请人
万国商业机器公司 美国
发明人
朱惠蓉
分类号
H01L29/78;H01L21/336
主分类号
H01L29/78
代理机构
代理人
蔡玉玲 台北市大安区敦化南路2段218号5楼A区
主权项
地址
美国
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