Verfahren und Einrichtung zur Ermittlung der Temperaturkalibrierkennlinie eines Halbleiterbauelements der Leistungselektronik

摘要

Die Erfindung betrifft Verfahren und Einrichtungen zur Ermittlung der Temperaturkalibrierkennlinie eines Halbleiterbauelements der Leistungselektronik. Diese zeichnen sich insbesondere dadurch aus, dass die Temperaturkalibrierkennlinie einfach und ökonomisch günstig zu ermitteln ist. Dazu werden/sind die Leistungsanschlüsse des Halbleiterbauelements–mit einer ersten Stromquelle für einen Laststrom,–mit einer zweiten Stromquelle für einen Messstrom, und–mit einem Voltmeter zur Messung der über entweder die Leistungsanschlüsse oder mit den Leistungsanschlüssen verbundenen Hilfsanschlüssen abfallenden Spannung zusammengeschaltet. Weiterhin wird das mit einem Datenverarbeitungssystem verbundene Halbleiterbauelement–in Intervallen bei zugeschalteter erster Stromquelle über dessen Verlustleistung erwärmt und–die bei abgeschalteter erster Stromquelle und zugeschalteter zweiter Stromquelle über die Leistungs- oder Hilfsanschlüsse abfallende Spannung zwischen den Intervallen nach einer durch die thermische Hauptzeitkonstante des Halbleiterbauelements bestimmten Zeitdauer als die Temperatur repräsentierende Werte einschließlich der dazugehörigen Temperaturen gemessen. Die Werte bilden nach einer Näherung die Kalibrierkennlinie des Halbleiterbauelements.