发明名称 |
一种连续光谱散射式颗粒测量方法 |
摘要 |
一种连续光谱散射式颗粒测量方法。解决在光散射法颗粒粒度及浓度测量中,采用单一波长或几个波长的光源,在大散射角度接收的信号微弱、采样点少的问题。本发明将连续波长的光照射在样品颗粒上,产生散射信号。将一定散射角范围内的散射光会聚到一点,导入光谱仪进行分析,得到不同波长的散射信号分布。这些散射信号分布与颗粒的粒径有关,通过数据算法得到颗粒的粒度及浓度分布。本发明将大范围散射角度的光信号会聚到一点接收,提高信号强度;采用连续光谱光源和光谱仪分析信号,增加了信号采样点数量,提高了测量分辨率和信噪比。 |
申请公布号 |
CN103308432A |
申请公布日期 |
2013.09.18 |
申请号 |
CN201310281213.1 |
申请日期 |
2013.07.05 |
申请人 |
河北工业大学 |
发明人 |
魏永杰;李春雨;刘 |
分类号 |
G01N15/02(2006.01)I;G01N15/06(2006.01)I |
主分类号 |
G01N15/02(2006.01)I |
代理机构 |
天津佳盟知识产权代理有限公司 12002 |
代理人 |
李益书 |
主权项 |
一种连续光谱散射式颗粒测量方法,其特征在于该方法的具体步骤是:由光源(1)发出连续波长的光经准直透镜(2)后照射在待测颗粒样品(3)中,经待测颗粒散射后由聚焦镜会聚于一点;将光谱仪的接收端口或光纤端口置于聚焦镜的会聚点位置,待测颗粒的散射光信号导入光谱仪进行分析,得到不同波长散射光的强度分布,通过数据反演得到待测颗粒粒度和浓度。 |
地址 |
300130 天津市红桥区光荣道8号 |