发明名称 相控阵波控性能快速诊断方法
摘要 本发明供一种实船或者模拟试验场条件下相控阵波控性能快速诊断方法,根据相控阵具有的空间扫描特性、方向图的起伏特性以及测试天线与相控阵相扫描的相对运动关系,通过频谱分析仪测试相控阵空间场的水平、垂直分布特性,并以此来评价相控阵波控性能正常与否。利用本发明方法直观的评价相控阵波控性能正常与否,可作为评价相控阵波控性能的手段和依据。
申请公布号 CN102508068B 申请公布日期 2013.09.18
申请号 CN201110341169.X 申请日期 2011.11.02
申请人 中国舰船研究设计中心 发明人 谢大刚;吴楠;王春;易学勤;张炜;黄明亮
分类号 G01R31/00(2006.01)I;G01S7/40(2006.01)I 主分类号 G01R31/00(2006.01)I
代理机构 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 代理人 王丹
主权项 1.相控阵波控性能的快速诊断方法,其特征在于:它包括以下步骤:1)将测试天线通过支架设在与相控阵天线中心等高处,天线口径正对相控阵阵面中心,距离阵中心的距离大于<img file="FDA0000104830270000011.GIF" wi="270" he="75" />其中D为天线的最大尺度、λ为相控阵工作时电磁波波长;2)测试天线通过电缆接入频谱分析仪;3)根据频谱分析仪是否具有时域测试功能,区别对待:3-1、对于具有时域测试功能的频谱分析仪,将频谱分析仪的中心频率设为相控阵的发射频率,SPAN设为0Hz,RBW设为最大,扫描时间至少为相控阵方位扫描周期或俯仰扫描周期的2倍;相控阵分别以方位扫描、俯仰扫描模式发射,通过频谱分析仪分别记录相控阵方位扫描以及俯仰扫描时测试天线采集的时域包络;若所记录的时域包络具有周期特性,具有主瓣、旁瓣等的幅度起伏、且没有较明显的长直线,则说明相控阵波控性能正常;否则,波控性能出现故障;3-2、对于不具有时域测试功能的频谱分析仪,将频谱分析仪的中心频率设为相控阵的发射频率,SPAN设为相控阵的工作带宽,RBW设为1MHz;先将相控阵俯仰角固定为0度,方位角<img file="FDA0000104830270000012.GIF" wi="131" he="63" />等分为5个方位,即<img file="FDA0000104830270000013.GIF" wi="264" he="38" />0、<img file="FDA0000104830270000014.GIF" wi="107" he="38" /><img file="FDA0000104830270000015.GIF" wi="49" he="38" />分别测试这5个波位照射时测试天线接收到的主频电平,如果所测得的5个电平值成中心对称,且电平值有起伏,则说明相控阵方位扫描正常;反之,则说明相控阵方位扫描出现故障;然后将相控阵固定方位角为0度,将俯仰角[θ<sub>1</sub>,θ<sub>2</sub>]等分成5个俯仰角,即θ<sub>1</sub>、<img file="FDA0000104830270000016.GIF" wi="187" he="108" /><img file="FDA0000104830270000017.GIF" wi="382" he="108" />θ<sub>2</sub>,分别测试这5个波位照射时测试天线接收到的主频电平,如果所测得的5个电平值电平值有起伏,则说明相控阵方位扫描正常;反之,则说明相控阵方位扫描出现故障。
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