| 发明名称 | 一种测试治具 | ||
| 摘要 | 本发明提供一种测试治具，包括第一探针、第二探针、对应机构以及电性测试仪，所述第一探针与第二探针均与所述电性测试仪连接以进行短路电性测试，所述对应机构能够使所述第一探针/第二探针穿过待检测印制线路板的成型内槽而与第二探针/第一探针接触，或者所述对应机构能够使所述第一探针与第二探针在待检测印制线路板的成型内槽中接触。本发明测试治具有效避免了印制线路板因成型内槽漏铣而导致印制线路板产品上件不良问题出现，而且便捷、高效。 | ||
| 申请公布号 | CN103308728A | 申请公布日期 | 2013.09.18 |
| 申请号 | CN201210071589.5 | 申请日期 | 2012.03.16 |
| 申请人 | 北大方正集团有限公司;重庆方正高密电子有限公司 | 发明人 | 蒋明川 |
| 分类号 | G01R1/02(2006.01)I;G01R31/28(2006.01)I | 主分类号 | G01R1/02(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人 | 罗建民;邓伯英 |
| 主权项 | 一种测试治具，其特征在于包括第一探针、第二探针、对应机构以及电性测试仪，所述第一探针与第二探针均与所述电性测试仪连接以进行短路电性测试，所述对应机构能够使所述第一探针/第二探针穿过待检测印制线路板的成型内槽(2)而与第二探针/第一探针接触，或者所述对应机构能够使所述第一探针与第二探针在待检测印制线路板的成型内槽中接触。 | ||
| 地址 | 100871 北京市海淀区成府路298号中关村方正大厦5层 | ||