发明名称 半导体激光管功率和波长特性自动测试装置及方法
摘要 本发明涉及半导体激光管的测试设备,具体的说是一种半导体激光管功率和波长特性自动测试装置及方法,其特征在于设有微处理器,与微处理器相连接的可控电流源,与微处理器相连接的用于为待测半导体激光管提供不同环境温度的可调恒温箱,与微处理器相连接的可调光衰减器,与可调光衰减器的光信号输出端相连接的分光比为1:1的光耦合器,与1:1光耦合器的一路光信号输出端相连接的光功率计,与1:1光耦合器的另一路光信号输出端相连接的光谱仪,其中光功率计、光谱仪的测量结果输出端分别与微处理器的通信端口相连接,具有结构合理、操作简便等显著的优点。
申请公布号 CN103308159A 申请公布日期 2013.09.18
申请号 CN201310235994.0 申请日期 2013.06.15
申请人 威海北洋电气集团股份有限公司 发明人 史振国;刘瑜
分类号 G01J1/42(2006.01)I;G01J3/28(2006.01)I 主分类号 G01J1/42(2006.01)I
代理机构 威海科星专利事务所 37202 代理人 于涛
主权项 一种半导体激光管功率和波长特性自动测试装置,其特征在于设有用于控制整个装置工作状态的微处理器,与微处理器相连接的用于向待测半导体激光管输出不同电流值的可控电流源,与微处理器相连接的用于为待测半导体激光管提供不同环境温度的可调恒温箱,与微处理器相连接的用于对待测半导体激光管输出的光信号进行衰减处理的可调光衰减器,与可调光衰减器的光信号输出端相连接的分光比为1:1的光耦合器,与1:1光耦合器的一路光信号输出端相连接的光功率计,与1:1光耦合器的另一路光信号输出端相连接的光谱仪,其中光功率计、光谱仪的测量结果输出端分别与微处理器的通信端口相连接。
地址 264200 山东省威海市高区火炬路159号北洋集团