发明名称 具易移除牺牲层的磊晶结构及其制造方法
摘要 一种具易移除牺牲层的磊晶结构的制造方法包含以下步骤:首先,制备一第一基板,接着,于该第一基板上形成一氧化镓牺牲层,该氧化镓牺牲层满足GaOx,其中0.5≦x≦3.5,而后,于该氧化镓牺牲层上磊晶成长一磊晶结构层,利用移除该氧化镓牺牲层来保持该磊晶结构层的品质与性能,而由于该氧化镓牺牲层结晶特性弱,因此该氧化镓牺牲层容易被移除,提高整体制程效率。
申请公布号 TWI408732 申请公布日期 2013.09.11
申请号 TW099145518 申请日期 2010.12.23
申请人 国立中兴大学 台中市南区国光路250号 发明人 武东星;洪瑞华;蔡宗晏
分类号 H01L21/20 主分类号 H01L21/20
代理机构 代理人 高玉骏 台北市松山区南京东路3段248号7楼;杨祺雄 台北市松山区南京东路3段248号7楼
主权项
地址 台中市南区国光路250号