发明名称 发光模组的检测设备及检测方法
摘要 本发明系有关于一种发光模组及其元件的检测设备,发光模组布设有发光二极体,检测设备包括积分检测器、箱体、承放板、传动机构及电性导接机构,积分检测器对应于发光模组配置,箱体形成有容置室,承放板盖合容置室且其设有通孔,发光模组置放于承放板,传动机构可驱动承放板作位移,电性导接机构包含相互电连接的导电端子及讯号连接器,导电端子穿设于通孔;使二极体与导电端子导接,利用讯号连接器的通、断路变换使二极体产生明、灭,而从积分检测器予以检出。本发明还提供发光模组的检测方法。
申请公布号 TWI409000 申请公布日期 2013.09.11
申请号 TW098111143 申请日期 2009.04.03
申请人 研晶光电股份有限公司 新北市土城区永丰路173之8号2楼 发明人 魏志宏;吴明昌;许志扬;吴智龙;郑丁元
分类号 H05B37/03 主分类号 H05B37/03
代理机构 代理人 谢佩玲 台北市大安区罗斯福路2段107号12楼
主权项
地址 新北市土城区永丰路173之8号2楼