增加晶片测试效率的装置及其方法

摘要

增加晶片测试效率的装置包含一式样产生器、一读取单元、一逻辑运算器及一判断单元。该式样产生器系用以对一记忆体晶片内的每一记忆区块写入一逻辑电位；该读取单元系用以读取该记忆区块内所有记忆单元储存的逻辑电位；该逻辑运算器系用以对该记忆区块内所有记忆单元储存的逻辑电位执行一第一逻辑运算，以产生一对应于该记忆区块的第一逻辑运算结果，以及对复数个第一逻辑运算结果执行一第二逻辑运算，以产生一对应于该记忆体晶片的第二逻辑运算结果；及该判断单元系根据该第二逻辑运算结果，判断该记忆体晶片是否合格。