发明名称 一种增强多孔硅发光和分散性的表面改性工艺
摘要 本发明公开了一种增强多孔硅发光和分散性的表面改性工艺,采用化学–电化学腐蚀相结合的方法,可以大面积制备具有整齐孔隙结构的多孔硅,然后将多孔硅经烯烃和烯酸进行表面改性,在硅颗粒表面引入了Si-C键。与未经表面改性处理的多孔硅相比,改性后多孔硅颗粒的光致发光强度有了明显增强;同时,硅颗粒在极性和非极性溶剂中的发光稳定性大大提高,发光强度随时间延长而衰减现象得到的有效改善;此外,包覆烯酸分子的硅颗粒在极性溶剂中的分散性能良好。本发明工艺简单,方便操作并且适合大规模生产,具有很强的工业应用前景。
申请公布号 CN103288087A 申请公布日期 2013.09.11
申请号 CN201310204226.9 申请日期 2013.05.28
申请人 浙江大学 发明人 李东升;梁锋;杨德仁
分类号 C01B33/02(2006.01)I 主分类号 C01B33/02(2006.01)I
代理机构 杭州天勤知识产权代理有限公司 33224 代理人 胡红娟
主权项 一种增强多孔硅发光和分散性的表面改性工艺,其特征在于,包括如下步骤:(1)将多孔硅材料经研磨得到粒径为2nm~200nm的多孔硅颗粒;(2)用稀释的氢氟酸溶液对多孔硅颗粒进行处理,除去多孔硅硅颗粒表面的Si‑O键,生成Si‑H键;(3)将烯烃与有机溶剂混合均匀,用氮气或氩气进行鼓泡处理,鼓泡时间1~3小时;(4)通过离心将步骤(2)中的多孔硅颗粒与稀释的氢氟酸溶液分离,将分离后的多孔硅颗粒倒入步骤(3)得到的溶液中,在不超过烯烃和有机溶剂沸点的温度下反应0.5~30小时,反应过程中持续通入氮气或氩气鼓泡;(5)向(4)中加入烯酸,在不超过烯酸和有机溶剂沸点的温度下加热或在紫外光照射下反应3~30小时。
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